鍵盤In-Line檢測系統
系統簡介
是一套可搭配生產線速度的In-Line即時檢測系統,使用高解析度相機與特殊的打光方式檢測鍵盤外觀瑕疵。
參考流程圖
系統規格
檢測時間:< 10 sec/片
使用相機:Line CCD
系統解析度:0.02mm/pixel
檢測項目
錯鍵
雷雕品質檢測
盲點盲線
凸點
氣泡
白點
毛屑
陰影
亮點
髒污
刮傷
● 刮傷
● 鐳雕不良 ● 鐳雕偏移 ● 鐳雕斷筆
※詳細規格請洽本公司業務人員
2014.10.18