EEVision Website -- 鍵盤In-Line檢測系統
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鍵盤In-Line檢測系統

系統簡介
 是一套可搭配生產線速度的In-Line即時檢測系統,使用高解析度相機與特殊的打光方式檢測鍵盤外觀瑕疵。
 
參考流程圖
 
系統規格
  • 檢測時間:< 10 sec/片
  • 使用相機:Line CCD
  • 系統解析度:0.02mm/pixel
檢測項目
  • 錯鍵
  • 雷雕品質檢測
  • 盲點盲線
  • 凸點
  • 氣泡
  • 白點
  • 毛屑
  • 陰影
  • 亮點
  • 髒污
  • 刮傷 
 
 
● 刮傷                                                                        
             
 
 
 
 
● 鐳雕不良                                                         ● 鐳雕偏移                                                           ● 鐳雕斷筆
         
 
 
 
 
 
 ※詳細規格請洽本公司業務人員
 
 
 
 
 
2014.10.18

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