EEVision Website -- 鍵盤字鍵高度檢測系統
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鍵盤字鍵高度檢測系統
產品介紹及主要功能:
EVKHIS 是一套可搭配生產線速度的In-Line即時檢測系統,使用高解析度相機與特殊的打光方式,可檢測功能如下:
1. 同一字鍵高度不能超過標準高度0.d1mm。
2. 相鄰兩個按鍵做比較不能超過0.d2mm。
3. 系統量測誤差在0.0d3mm以內。
d1.d2.d3可配合客戶需求做變更。
系統示意圖:
※詳細規格請洽本公司業務人員
2014.01.01
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