EEVision Website -- 太陽能晶片端面溢膠檢測系統
正在加載......
X
 
會員帳號 :
會員密碼 :
忘記密碼    加入會員

分類清單
首頁 > 產品總覽 > 太陽能檢測設備-
太陽能晶片端面溢膠檢測系統

太陽能晶片端面溢膠檢測系統
        
 一、產品介紹：
 
太陽能端面溢膠檢測系統 主要功能在於檢測晶片下刮刀處端面溢膠，並顯示出溢膠位置及是否有超過所設定規格。使用高解析度相機搭配高穩定性視覺檢測軟體，架設於Cell生產線印刷後,做即時100%全檢，並且將相關的檢驗量測數據與判斷資料予以數據化、數位影像化儲存，便於後續進行相關製程分析與品質提報時使用。
 
二、系統特點：
 操作簡易，操作介面可中英文切換
 可記錄晶片判讀影像檔
 具資料庫記錄功能，做日後分析及管理
 取代人眼主觀判斷，使得缺陷檢測有一致性之依據
 獨立光源，可避免外界光線之干擾
  即早檢測端面溢膠，可節省原物料浪費
 可搭配各類型印刷機及正背面檢測系統做線上即時檢測
 
三、主要功能：
下刮刀處端面溢膠:可檢測之最小尺寸為0.1mm以上
 
※詳細規格請洽本公司業務人員

 

                     
 
 
 
 
2014.01.01

友善列印

gotop

台北辦公室地址：新北市新店區寶宏路3-3號5樓電話：(02)8665-0720傳真：(02)2914-5763
Address：5F., No. 3-3, Baohong Rd., Xindian Dist., New Taipei City 23145, Taiwan (R.O.C.)  TEL：(02)8665-0720FAX：(02)2914-5763

新竹辦公室地址：新竹市八德路19巷3號1樓(新竹聯絡處)電話：(03)562-1599傳真：(03)562-3299
Address：1F., No.3, Ln.19, Bade Rd., East Dist., Hsinchu City 300, Taiwan(R.O.C.) TEL：(03)562-1599FAX：(03)562-3299