一、產品介紹:
EVSWC-II 本系統是新型太陽能晶片數片機,使用創新的硬體取像裝置(專利已通過)以及高級演算法之軟體,
使影像更清晰,使數片準確率比前一代者大幅提升。
二、系統特點:
可參數微調,以符合各類厚薄度修正
可作即時影像放大分析及確認
具資料庫記錄功能
具有自動調整曝光時間功能(配合不同原料和製程)
計數時,可不需完全拆除包裝用膠膜(視包材狀況而定)
具有自動測試之功能,方便不同原料和製程的最佳參數設定
三、主要功能: