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太陽能晶片背面沈積瑕疵檢查系統

太陽能晶片背面沈積瑕疵檢查系統

一、產品介紹:
太陽能晶片於PECVD製程中,可能因裂痕或破片而導致背面也沉積到薄膜,必須先行以人工目視挑出,不但耗費人力成本,亦減損生產效率。
本系統以全自動檢查設備,導入於晶片開始印刷前進行inline檢查,不但能節省人力,亦能增進生產效率。
二、系統特點:
      可檢查太陽能晶片於沈積過程可能產生的背面沈積瑕疵
      可導入於太陽能晶片印刷設備,在不影響印刷製程的前提下,進行全自動檢查
      簡易且人性化的操作界面,搭配各國語言的切換,可縮短產線人員於機台操作的學習曲線
 
 
三、規格及功能:
 
      太陽能晶片規格:單、多晶均適用
      瑕疵種類:晶片背面沈積
 
   
 
 ※詳細規格請洽本公司業務人員
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
2014.01.01

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