EEVision Website -- 光纖陶瓷套筒測量系統
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<td width="73"><a href="/front/bin/ptlist.phtml?Category=14"><img id="mec05" border="0" name="mec05" alt="" width="73" height="40" onmouseover="MM_swapImage('mec05','','/ezcatfiles/sdt155/img/img/2424/menuc_r1_c5.jpg',1)" onmouseout="MM_swapImgRestore()" src="/ezcatfiles/sdt155/img/img/2424/menuca_r1_c5.jpg" /></a></td>
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光纖陶瓷套筒測量系統

EVPM : 光纖陶瓷套筒測量系統
功能
本系統是用來作為光通訊元件之陶瓷套筒(Ferrule)之偏心量之量測。運用非接觸方式,整合顯微鏡頭、特殊光源、高精度夾治具及高畫素相機取像,並以特別開發的影像處理軟體作為量測工具,精度可達次微米(Sub-micro)級,且重現性極佳。
特點
非接觸式量測。
工件以夾治具為基準作迴轉運動,無偏擺問題。
操作介面可即時中英文切換。
量測時間:少於3秒/個。
校正快速、簡易。
佔地面積小。
規格
Ferrule尺寸:外徑2.5mm,內徑125+/-5 um
內孔相對於外孔之偏心量:重現誤差低於0.08um
主要構件
高解析度相機及鏡頭組
防震台座
電腦;螢幕:P4以上;15以上 LCD 顯示幕
工件夾治具:特殊工件承座
軟體
自動上、下料裝置:選項
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2014.01.01

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