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太陽能晶片色差檢測系統

EVSCS : 太陽能晶片色差檢測系統
一、產品介紹：
EVSCS  本系統太陽能晶片經網印或蒸鍍後,其表面顏色會依人眼主觀判斷而有顏色深淺之差別。
本系統即運用光學原理,可依據太陽能晶片表面之顏色深淺,度量其表面顏色,將太陽能晶片分類為
不同的種類,使太陽能晶片在出貨時能夠保持顏色上的一致性。
 
二、系統特點：
 
操作簡易,操作介面可中英文切換
可整合電路及外觀瑕疵檢測功能
可進行晶片顏色分類，顏色分類個數可由客戶自行設定
具有顏色均勻性的判讀；可設定均勻性等級而剔除顏色不均勻之太陽能晶片
自動排除晶片上電路印刷之區域，避免干擾顏色之判讀
可記錄晶片判讀影像檔，將檢測結果記錄於資料庫中，以供統計分析及管理
 
三、主要功能：
 
      

   
 
 
 
 
 
　　　
 
 
 
 
 
2014.01.01

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