EEVision Website -- 键盘In-Line检测系统
正在加載......
X
 
會員帳號 :
會員密碼 :
忘記密碼    加入會員

键盘In-Line检测系统

系统简介
是一套可搭配生产线速度的In-Line实时检测系统,使用高分辨率相机与特殊的打光方式检测键盘外观瑕疵。
参考流程图
系统规格
  • 检测时间:< 10 sec/片
  • 使用相机:Line CCD
  • 系统分辨率:0.02mm/pixel
检测项目
  • 错键
  • 雷雕品质检测
  • 盲点盲线
  • 凸点
  • 气泡
  • 白点
  • 毛屑
  • 阴影
  • 亮点
  • 脏污
  • 刮伤
● 刮伤
● 镭雕不良 ● 镭雕偏移 ● 镭雕断笔
※详细规格请洽本公司业务人员
2014.10.18

友善列印

gotop