EEVision Website -- 键盘In-Line检测系统
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键盘In-Line检测系统
系统简介
是一套可搭配生产线速度的In-Line实时检测系统,使用高分辨率相机与特殊的打光方式检测键盘外观瑕疵。
参考流程图
系统规格
检测时间:< 10 sec/片
使用相机:Line CCD
系统分辨率:0.02mm/pixel
检测项目
错键
雷雕品质检测
盲点盲线
凸点
气泡
白点
毛屑
阴影
亮点
脏污
刮伤
● 刮伤
● 镭雕不良 ● 镭雕偏移 ● 镭雕断笔
※详细规格请洽本公司业务人员
2014.10.18
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