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太陽能檢測設備-

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太陽能檢測設備

太陽能晶片背面沈積瑕疵檢查系統
太陽能晶片於PECVD製程中，可能因裂痕或破片而導致背面也沉積到薄膜，必須先行以人工目視挑出，不但耗費人力成本，亦減損生產效率。本系統以全...

太陽能晶片Finger寬度量測系統
本系統(EVSCFW)主要功能在於量測晶片Finger寬度，並顯示出其寬度變化趨勢圖。使用高解析度相機搭配高穩定性視覺檢測軟體，架設於Cell生產線印...

太陽能晶片新型數片機Ⅱ
EVSWC-Ⅱ 本系統是新型太陽能晶片數片機，使用創新的硬體取像裝置(具專利認證)以及高級演算法之軟體，使影像更清晰，使數片準確率比前一代者大幅提升。

太陽能晶片端面溢膠檢測系統
太陽能晶片端面溢膠檢測系統主要功能在於檢測晶片下刮刀處端面溢膠，並顯示出溢膠位置及是否有超過所設定規格。

太陽能板晶柱倒角量測系統
本系統功能在檢測晶圓於切片前之晶柱時，四邊研磨後之倒角量。

太陽能晶片數片機
本系統是用來作為太陽能板之計數

太陽能晶片色差檢測系統
運用光學原理，度量其表面顏色，以進行色差分類

晶圓厚度量測系統
本系統可依據太陽能晶圓之厚度量測。

太陽能晶片線上計數系統
即時偵知晶片產線上各點之數量，並彙集到某PC，並與公司之MES伺服器連線。

太陽能晶片正面瑕疵檢測系統
EVSCI 本系統主要功能在於檢測晶片的表面及端(側)面各種瑕疵，包括邊緣破片、汙點、剝落、端面溢膠以及路斷線，並顯示出瑕疵位置，以節省人工檢查所花...

台北辦公室地址：新北市新店區寶宏路3-3號5樓電話：(02)8665-0720傳真：(02)2914-5763
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