EEVision Website -- 太陽能晶片數片機
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太陽能檢測設備-
太陽能晶片數片機
EVSWC 太陽能晶片數片機
一、產品介紹:
本系統為太陽能晶片計數之專用設備。運用影像視覺處理技術,配合特殊設計之機台、光源裝置與高解析度相機取像,並輔以人工智慧。
二、系統特點:
間距超過400µm可計數正確
計數速度小於1 秒
具有自動測試之功能,方便不同原料和制程的最佳參數設定
沒有繁瑣的參數調整,內建參數檔可以涵蓋90%以上的Wafer , Cell
異常狀況提醒功能
操作介面可支援多國語言
數片值重現性佳
可作即時影像放大分析及確認
體積輕巧、占地小;組成元件無運動件,無噪音問題
具有自動調整曝光時間的功能,可有效取得最佳影像 (配合不同原料和制程)
輕巧好攜帶,可與筆電連結之數片機
可顯示每片厚度
畫面可自行選擇直式或橫式,軟體也支援HD畫面
三
、主要功能:
※
詳細規格請洽本公司業務人員
2014.01.01
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