EEVision Website -- LED封装检测系统规格
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LED封装检测系统规格

Item

Defect Name

示意图

Spec

Package

No Package

 

 

Broken / Burr(破裂)

 

 

FM(异物)

 

 

Chip

No Chip

不能有

Ink Chip(脏污)

30μm*30μm(Pad)

80μm*80μm(总面积)

Flip(不平)

 

10° (芯片倾斜)

Offset(偏移)

 

80μm

Rotation

10°

Broken(破裂)

芯片边缘向内面积30μm*30μm

Epoxy (Outer)

 

Epoxy (Inner)(沾银胶)

 

30μm*30μm (最好不可有)

Epoxy (Inner)(沾透明胶)

 

30μm*30μm (最好不可有)

Micro Crack(表面裂缝)

 

30μm*30μm

Scratch(刮伤)

30μm*150μm(Pad)

60μm*150μm(发光区)

FM(异物)

80μm*80μm

Finger断线

30μm*30μm

残金

30μm*30μm

No Ball

不能有

Wire

球厚

 

13.5μm~22.5μm

No Wire

不能有

Wrong(错位 拉错点)

 

不能有

Broken(线弧断线)

不能有

Short(短路)互相接触

 

不能有

FM(异物)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

※详细规格请洽本公司业务人员

 

 

 

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